學(xué)術(shù)講座
微納加工中的薄膜表征及測(cè)量設(shè)備簡(jiǎn)介
演講人:馬續(xù)航
時(shí)間:2023年10月12日 16:15
地點(diǎn):檢測(cè)中心樓M101會(huì)議室
內(nèi)容:主要介紹微納加工中常見的薄膜厚度的各種表征方式及測(cè)量,以及薄膜光學(xué)特性、力學(xué)特性的測(cè)量及表征介紹。
演講人:馬續(xù)航
時(shí)間:2023年10月12日 16:15
地點(diǎn):檢測(cè)中心樓M101會(huì)議室
內(nèi)容:主要介紹微納加工中常見的薄膜厚度的各種表征方式及測(cè)量,以及薄膜光學(xué)特性、力學(xué)特性的測(cè)量及表征介紹。