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AN1640降低加速度計(jì)對(duì)BCI的敏感性

2023/04/25
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AN1640降低加速度計(jì)對(duì)BCI的敏感性

介紹

汽車制造商要求所有系統(tǒng)電子設(shè)備都能通過嚴(yán)格的電磁兼容性(EMC)測(cè)試。安全氣囊系統(tǒng)是必須在EMC測(cè)試中正常運(yùn)行的系統(tǒng)之一。EMC測(cè)試有不同類型,其中之一是測(cè)試系統(tǒng)對(duì)高頻傳導(dǎo)發(fā)射的耐受性。對(duì)于EMC評(píng)估而言,最嚴(yán)格的方法之一是批量電流注入(BCI)測(cè)試。整個(gè)安全氣囊系統(tǒng)必須在BCI測(cè)試期間保持正常工作。本應(yīng)用筆記將討論如何降低Freescale加速度計(jì)對(duì)BCI的敏感性,但這里提供的信息也可應(yīng)用于系統(tǒng)中的其他電子組件。

BCI測(cè)試設(shè)置

BCI測(cè)試程序遵循一個(gè)公開發(fā)表的SAE工程標(biāo)準(zhǔn),“抗輻射電場(chǎng)~批量電流注入(BCI)”,或者稱為SAE J 1113/401。對(duì)于安全氣囊模塊,這涉及通過控制注入探針中的電流向線束注入所需的電流。測(cè)試頻率可以從1 MHz到數(shù)百M(fèi)Hz不等。測(cè)試需要每個(gè)八度至少20個(gè)頻率步驟,但也可以使用多達(dá)50個(gè)步驟。注入探針放置在距離安全氣囊模塊連接器的線束上的三個(gè)距離之一:120、450和750毫米。存在一個(gè)監(jiān)測(cè)探針來測(cè)量所注入的電流量。它放置在距離安全氣囊模塊50毫米的位置。這會(huì)反饋到系統(tǒng),以確保所需的測(cè)試電流被注入到線束上。圖1顯示了BCI測(cè)試的設(shè)置。(更多細(xì)節(jié)請(qǐng)參見SAE J 1113/401測(cè)試程序)。

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90325-0014 1 Molex Board Connector, 14 Contact(s), 2 Row(s), Male, Straight, 0.05 inch Pitch, Solder Terminal, Locking, Black Insulator, Receptacle,

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GCM155R71H103KA55J 1 Murata Manufacturing Co Ltd Ceramic Capacitor, Multilayer, Ceramic, 50V, 10% +Tol, 10% -Tol, X7R, 15% TC, 0.01uF, Surface Mount, 0402, CHIP, ROHS COMPLIANT

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BAV99S,135 1 Nexperia BAV99S - High-speed switching diode@en-us TSSOP 6-Pin

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恩智浦

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恩智浦半導(dǎo)體創(chuàng)立于2006年,其前身為荷蘭飛利浦公司于1953年成立的半導(dǎo)體事業(yè)部,總部位于荷蘭埃因霍溫。恩智浦2010年在美國納斯達(dá)克上市。恩智浦2010年在美國納斯達(dá)克上市。恩智浦半導(dǎo)體致力于打造全球化解決方案,實(shí)現(xiàn)智慧生活,安全連結(jié)。

恩智浦半導(dǎo)體創(chuàng)立于2006年,其前身為荷蘭飛利浦公司于1953年成立的半導(dǎo)體事業(yè)部,總部位于荷蘭埃因霍溫。恩智浦2010年在美國納斯達(dá)克上市。恩智浦2010年在美國納斯達(dá)克上市。恩智浦半導(dǎo)體致力于打造全球化解決方案,實(shí)現(xiàn)智慧生活,安全連結(jié)。收起

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