芯耀
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開(kāi)展專利分析工作，是有效利用專利信息，降低運(yùn)營(yíng)風(fēng)險(xiǎn)，防范專利權(quán)糾紛的重要手段，是有效開(kāi)發(fā)和保護(hù)自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的重要途徑。
本課程詳細(xì)介紹專利信息的多種分析角度和方法，并提供分析圖表的解讀原則和方法供使用者參考。
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