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    閂鎖效應(yīng)
    
      
    
    
    
    
      
    
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    閂鎖效應(yīng)（Latch-up）是CMOS集成電路中一個(gè)重要的問題，這種問題會(huì)導(dǎo)致芯片功能的混亂或者電路直接無法工作甚至燒毀。
    
    
    閂鎖效應(yīng)（Latch-up）是CMOS集成電路中一個(gè)重要的問題，這種問題會(huì)導(dǎo)致芯片功能的混亂或者電路直接無法工作甚至燒毀。收起
    
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